SPECTRO MIDEX　不僅僅適用于珠寶行業、貴金屬檢驗機構，海關商檢、造幣工業等，還可完成其它分析任務如：非破壞性檢查，貴金屬分選，電子線路及電氣元件的分析等。

技術規格
 

儀器操作簡便、直觀。可在原位進行有效的“失效分析”。

*性:

 

X射線管和檢測器系統*的幾何設計使其能夠分析以前無法觸及的樣品表面。如:環形樣品的內表面。

激發源
● Mo靶的X光管
● 風冷
● zui大功率：30W
● zui高電壓：50kV
● 測量點尺寸：0.7mm

樣品室
● 長：520 mm(20.5 '''')
● 寬：310mm(12'''')
● 高:160 mm(6.3'''')
● 樣品放大成像系統
● 手動樣品臺或固定樣品用多軸向夾具
● 符合嚴格的ξ3 R?V(德國X射線標準)輻射防護標準

計算機
● 臺式Pentium™ 計算機
● Windows™操作系統
● 鍵盤和鼠標
● 顯示器
● 打印機

軟件
● 菜單式軟件，光譜儀參數調整和數據評估及計算

檢測器
● 電致冷（Peltier 冷卻）的Si漂移半導體計數器
● 以Mn Kα線，在測量計數率為1000脈沖計數時,能量分辨率為:FWHM<150 eV
● 微處理器控制的檢測器和讀出電路

其它規格
● 電壓:100 -127或，200-240V,50/60 Hz,2.6/1.0A
● zui大處尺寸:
長:540mm(21’’)
寬:420 mm(16.5’’)
高:560 mm(22’’)

底座尺寸:
長:540mm(21’’)
寬:360 mm(14’’)
重量:40kg (88 lbs.)